Details

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我们的半导体测试插座专为半导体生产和验证环境中的高精度、高可靠性测试而设计。这些插座旨在为测试系统和被测设备 (DUT) 之间提供稳定的接口，确保精确的信号完整性、最小的接触电阻以及即使在重复测试循环下也能保持持久的性能。

主要特点：

• 高循环耐久性，低接触电阻
• 出色的电气性能，适用于高频测试
• 可选散热和夹紧功能